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WLCSP Probe Head

產(chǎn)品簡述 PRODUCT DESCRIPTION

特點(diǎn):

-適用于0.35 pitch以上晶圓級封裝芯片/ Applied in WLCSP package with 0.35 above
-支持射頻性能測試/ support RF performance testing
-支持-40~125°C高低溫測試/support high&low temp(-40~125°C) testing
-支持多site測試&direct docking,易安裝維護(hù)/ support multi-site testing&direct docking, easier installation and maintenance.